Semiconductor Metrology And Inspection Market Scope And Analysis

  • Report Code : TIPRE00004996
  • Category : Electronics and Semiconductor
  • Status : Published
  • No. of Pages : 150
Buy Now

Marktumfang, Segmente und Wachstum für Halbleitermesstechnik und -inspektion bis 2028

Buy Now

Semiconductor Metrology and Inspection Market Report Semiconductor Metrology and Inspection Market Size and Share Semiconductor Metrology and Inspection Market Scope and Analysis

Semiconductor Metrology and Inspection Market Report Scope

BerichtsattributEinzelheiten
Marktgröße im Jahr 20227,55 Milliarden US-Dollar
Marktgröße bis 20288,29 Milliarden US-Dollar
Globale CAGR (2022 - 2028)6,6 %
Historische Daten2020-2021
Prognosezeitraum2023–2028
Abgedeckte SegmenteNach Typ
  • Wafer-Inspektionssystem
  • Maskeninspektionssystem
  • Dünnschichtmesstechnik
  • Stoßinspektion
  • Paketinspektion
  • Leadframe-Inspektion
  • Prüfkarteninspektion
Nach Technologie
  • Optisch und E-Beam
Nach Organisationsgröße
  • Großunternehmen und KMU
Abgedeckte Regionen und LänderNordamerika
  • UNS
  • Kanada
  • Mexiko
Europa
  • Vereinigtes Königreich
  • Deutschland
  • Frankreich
  • Russland
  • Italien
  • Rest von Europa
Asien-Pazifik
  • China
  • Indien
  • Japan
  • Australien
  • Restlicher Asien-Pazifik-Raum
Süd- und Mittelamerika
  • Brasilien
  • Argentinien
  • Restliches Süd- und Mittelamerika
Naher Osten und Afrika
  • Südafrika
  • Saudi-Arabien
  • Vereinigte Arabische Emirate
  • Restlicher Naher Osten und Afrika
Marktführer und wichtige Unternehmensprofile
  •  
  • Angewandte Materialien, Inc.
  • ASML Holdings NV
  • Hitachi High-Technologies Corporation
  • JEOL, Ltd.
  • KLA Corporation
  • Lasertec Corporation
  • NOVA Messgeräte
  • Nikon Metrology NV
  • Auf zu Innovation
   Kaufe jetzt   
  • Das Beispiel-PDF zeigt die Inhaltsstruktur und die Art der Informationen mit qualitativer und quantitativer Analyse.

Auf dem Markt für Halbleitermesstechnik und -inspektion konzentrieren sich die Unternehmen hauptsächlich auf die Entwicklung fortschrittlicher und effizienter Produkte.

  • Im Jahr 2022 kündigte die Lasertec Corporation die Veröffentlichung der MATRICS X9ULTRA-Serie an, ein Maskeninspektionssystem zur Inspektion der in der Extrem-Ultra-Lithografie (EUV) verwendeten Fotomasken im nicht angebrachten Zustand.
  • Im Jahr 2020 kündigte die KLA Corporation zwei neue Produkte an – das Wafergeometriesystem PWG5 und das Waferdefektinspektionssystem Surfscan SP7XP. Die neuen Systeme sind darauf ausgelegt, äußerst schwierige Probleme bei der Herstellung hochmoderner integrierter Speicher- und Logikschaltungen zu lösen.