Semiconductor Metrology And Inspection Market Scope And Analysis

  • Report Code : TIPRE00004996
  • Category : Electronics and Semiconductor
  • Status : Published
  • No. of Pages : 150
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Alcance del mercado de metrología e inspección de semiconductores, factores clave y crecimiento hasta 2028

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Semiconductor Metrology and Inspection Market Report Semiconductor Metrology and Inspection Market Size and Share Semiconductor Metrology and Inspection Market Scope and Analysis

Semiconductor Metrology and Inspection Market Report Scope

Atributo del informeDetalles
Tamaño del mercado en 20227,55 mil millones de dólares
Tamaño del mercado para 20288,29 mil millones de dólares
CAGR global (2022 - 2028)6,6%
Información histórica2020-2021
Período de pronóstico2023-2028
Segmentos cubiertosPor tipo
  • Sistema de inspección de obleas
  • Sistema de inspección de mascarillas
  • Metrología de película delgada
  • Inspección funcional
  • Inspección de paquetes
  • Inspección del marco principal
  • Inspección de la tarjeta de sonda
Por tecnología
  • Óptico y haz electrónico
Por tamaño de organización
  • Grandes Empresas y Pymes
Regiones y países cubiertosAmérica del norte
  • A NOSOTROS
  • Canadá
  • México
Europa
  • Reino Unido
  • Alemania
  • Francia
  • Rusia
  • Italia
  • El resto de Europa
Asia-Pacífico
  • Porcelana
  • India
  • Japón
  • Australia
  • Resto de Asia-Pacífico
América del Sur y Central
  • Brasil
  • Argentina
  • Resto de América del Sur y Central
Medio Oriente y África
  • Sudáfrica
  • Arabia Saudita
  • Emiratos Árabes Unidos
  • Resto de Medio Oriente y África
Líderes del mercado y perfiles clave de empresas
  •  
  • Materiales aplicados, Inc.
  • ASML Holdings NV
  • Corporación de alta tecnología Hitachi
  • JEOL, Ltd.
  • Corporación KLA
  • Corporación Lasertec
  • Instrumentos de medición NOVA
  • Metrología Nikon NV
  • Hacia la innovación
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En el mercado de inspección y metrología de semiconductores, las empresas se centran principalmente en el desarrollo de productos avanzados y eficientes.

  • En 2022, Lasertec Corporation anunció el lanzamiento de la serie MATRICS X9ULTRA, un sistema de inspección de máscaras diseñado para inspeccionar las fotomáscaras utilizadas en litografía ultravioleta extrema (EUV) mientras sus películas no están adheridas.
  • En 2020, KLA Corporation anunció dos nuevos productos: el sistema de geometría de oblea PWG5 y el sistema de inspección de defectos de oblea Surfscan SP7XP. Los nuevos sistemas están diseñados para abordar cuestiones extremadamente difíciles en la fabricación de circuitos integrados lógicos y de memoria de última generación.