Semiconductor Metrology And Inspection Market Scope And Analysis

  • Report Code : TIPRE00004996
  • Category : Electronics and Semiconductor
  • Status : Published
  • No. of Pages : 150
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Portée, stratégies et croissance du marché de la métrologie et de l'inspection des semi-conducteurs d'ici 2028

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Semiconductor Metrology and Inspection Market Report Scope

Attribut de rapportDétails
Taille du marché en 20227,55 milliards de dollars américains
Taille du marché d’ici 20288,29 milliards de dollars américains
TCAC mondial (2022 - 2028)6,6%
Données historiques2020-2021
Période de prévision2023-2028
Segments couvertsPar type
  • Système d'inspection des plaquettes
  • Système d'inspection des masques
  • Métrologie des couches minces
  • Inspection des bosses
  • Inspection des colis
  • Inspection du cadre de connexion
  • Inspection de la carte de sonde
Par technologie
  • Optique et faisceau électronique
Par taille d’organisation
  • Grandes Entreprises et PME
Régions et pays couvertsAmérique du Nord
  • NOUS
  • Canada
  • Mexique
L'Europe 
  • ROYAUME-UNI
  • Allemagne
  • France
  • Russie
  • Italie
  • Le reste de l'Europe
Asie-Pacifique
  • Chine
  • Inde
  • Japon
  • Australie
  • Reste de l'Asie-Pacifique
Amérique du Sud et Centrale
  • Brésil
  • Argentine
  • Reste de l'Amérique du Sud et centrale
Moyen-Orient et Afrique
  • Afrique du Sud
  • Arabie Saoudite
  • Émirats arabes unis
  • Reste du Moyen-Orient et Afrique
Leaders du marché et profils d’entreprises clés
  •  
  • Matériaux appliqués, Inc.
  • ASML Holdings SA
  • Société de haute technologie Hitachi
  • JEOL, Ltd.
  • Société KLA
  • Société Lasertec
  • Instruments de mesure NOVA
  • Nikon Metrologie SA
  • Vers l'innovation
  • L'exemple de PDF présente la structure du contenu et la nature des informations avec une analyse qualitative et quantitative.

Sur le marché de la métrologie et de l’inspection des semi-conducteurs, les entreprises se concentrent principalement sur le développement de produits avancés et efficaces.

  • En 2022, Lasertec Corporation a annoncé le lancement de la série MATRICS X9ULTRA, un système d'inspection de masques conçu pour inspecter les photomasques utilisés en lithographie ultraviolette extrême (EUV) lorsque leurs pellicules ne sont pas fixées.
  • En 2020, KLA Corporation a annoncé deux nouveaux produits : le système de géométrie des plaquettes PWG5 et le système d'inspection des défauts des plaquettes Surfscan SP7XP. Les nouveaux systèmes sont conçus pour résoudre des problèmes extrêmement difficiles dans la fabrication de mémoires et de circuits intégrés logiques de pointe.